冲击试样缺口投影仪概述

1、本投影仪是我公司根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺
口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，CST-50型冲击试样缺

口投影仪是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是

否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。

2、对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45º角且试样缺口尖端要求

R0.25±0.25），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合

格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口尖端的微小变化（其公差带只有0.25mm）都会引起试验结果的
陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，对缺
口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。

投影屏直径		180
工作台尺寸	方工作台	110×125
	圆工作台	∮90
	工作台玻璃直径	∮70
工作台行程	纵向	10mm
	横向	10mm
	升降	10mm
工作台转动范围		0～360º
仪器放大倍率		50×
物镜放大倍率		2.5×
投影物镜放大倍率		20×
光源（卤钨灯）		12V/100W
电源		220V/50Hz
外型尺寸		515×224×603mm(长×宽×高)
重量		约18kg