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		    |  |  | 日本精工 | X射线荧光镀层厚度测量仪 | A1532022 | 可测量元素原子序数13(Al)~83(Bi)X射线聚光聚光方式X射线源管电压50kV管电流1mA检测器Vortex®检测器(无需液氮)分析范围Φ0.1mm、Φ5mm样品观… | 洽询 | 洽询 | 
	      
		    |  |  | 日本精工 | X射线荧光镀层厚度测量仪 | A1532023 | 测定元素原子序号22(Ti)~83(Bi)X射线管管电压:50kV管电流:1.5mA检测器半导体检测器+比例计数管准直器4种(0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ)样品… | 洽询 | 洽询 | 
	      
		    |  |  | 日本精工 | X射线荧光镀层厚度测量仪 | A1532024 | 射线源空冷式小型X射线管准直器□型0.025x0.2mm,0.2x0.025mm○型0.05mm,0.1mm,0.2mmφ样品表示倍率(CRT上)最大4倍可变焦距样品平台移动量:220(… | 洽询 | 洽询 | 
	      
		    |  |  | 日本精工 | X射线荧光镀层厚度测量仪 | A1532025 | 射线源空冷式小型X射线管准直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ样品观察CCD照相机过滤器Co:自动切换样品平台移动量:220(X)x150… | 洽询 | 洽询 | 
	      
		    |  |  | 日本精工 | X射线荧光镀层厚度测量仪 | A1532026 | 射线源空冷式小型X射线管准直器2种类型0.1、0.2mmφ计算机CPU(AT互换电脑)、HDD、FDD、Microsoft-Windows®过滤装置数字过滤装置样品平台台面尺… | 洽询 | 洽询 |